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原始专利技术机制框图
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发布时间:2026年11月10日
原始专利技术机制框图
该框图中顶部说明了数据准备:包含多晶硅电致发光、可见光等多种太阳能电池图像,共386,913张(含标注10,913张,无标注376,000张),涵盖13类缺陷。S1(自监督主干预训练):将224×224图像转为HOG描述符并切片,经60%随机遮挡后输入ViTDeT主干与掩码解码器,通过MSE重建被遮挡特征,训练后丢弃解码器,输出主干权重。S2(对比式检测头预训练):同一图像生成两种增强视图输入冻结的ViTDeT主干,分别通过DINO头A(MLP伪框回归)和DINO头B(特征对比/EMA),利用IoU框回归损失与负余弦对比损失联合训练,输出DINO检测头权重。S3(有标注联合微调):输入带标注图像,经预训练主干提取4尺度特征,再由预训练DINO检测头输出,通过标注框监督进行梯度反向传播,最终主干与检测头全部更新,输出多场景缺陷检测模型。适合计算机视觉算法工程师、工业缺陷检测研发人员、自监督学习研究者及模型微调方向的研究生阅读参考。
发布时间:2026年11月10日
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